В заключительной статье из серии, посвященной характеристикам и способам оценки параметров конденсаторов, рассматриваются методы определения характеристик на частотах, превышающих 10 МГц, когда обычные мостовые схемы дают значительную ошибку. Применение отражательного моста позволяет определить векторные параметры конденсатора благодаря оценке коэф. отражения при коротком замыкании, холостом ходе и номинальной нагрузке. Такие методы дают возможность определения потерь в диэлектрике и напряжения пробоя на высоких частотах. Даны рекомендации по контролю исправности танталовых электролитических конденсаторов с использованием метода заряд/разряд, а также многослойных керамических конденсаторов.