Рассматриваются два метода преобразования: метод преобразования Фурье и элементарной волны, которые применяются для обработкой полос при муаровом эффекте для проведения анализов на относительную деформацию электронных модулей. С введением носителей полос для преобразования требуется только она система полос для каждого состояния деформации. Деформационная модуляция относительно частоты носителя может быть устранена фильтрацией, когда система полос преобразуется в спектральную область за счет применения быстрого преобразования Фурье. Таким образом, после деформации можно восстановить инверсией преобразования Фурье после спектрального сдвига. Метод преобразования элементарной волны расширяет получение информации, входящей в носитель инференционной полосы, как ее пространственной области, так и спектральной. Информация используется для анализа распространения деформации в таком комбинированном пространстве. Изменяя шкалу преобразования элементарной волны, можно получить многоразрешающие анализы для определения поля деформации.