» Оценивание и обеспечение надежности РЭА
Контроль срока службы изделий мехатроники с помощью комбинированного изменяющегося спектра усилий
Изделия механотроники, такие, как двигатели и насосы, характеризуются большим разнообразием видов воздействия на протяжении жизненного цикла, что требует применения широкого спектра испытаний различных видов при оценке надежности. Поскольку наибольшее влияние на вероятность отказов таких устройств оказывает мех. износ деталей, программа испытаний на надежность должна включать воздействие стрессов, изменяющихся во времени. Представлена мат. модель статистической оценки надежности по результатам испытаний, основанная на использовании распределения Вейбулла при определении вероятности отказа. Дан пример тестирования на основе изменяющегося спектра усилий для гидравлического насоса.
...
Нестандартные модели для предсказания надежности электронных изделий
Предложен и исследован метод анализа процессов старения при взаимодействии материалов электронных изделий со средой (этот процесс рассматривается как хим. реакция); на основе такого метода решены задачи предсказания характеристик надежности электронных изделий в условиях длительного хранения и эксплуатации; а также надежности этих изделий по результатам испытаний, в том числе и ускоренных, если автомодальность механизма отказов остается в формированном режиме такой же, как и в нормальном. Библ. 20.
...
Анализ многослойных микроэлектронных корпусов в условиях термического градиента
Точность определения межповерхностных и аксиальных напряжений в многослойных структурах имеет большое значение в процессе разработки микроэлектронного корпуса, т. к. эти напряжения приводят к отказам приборов. Представленная в этой статье аналитическая модель позволяет легко прогнозировать напряжения в многослойных микроэлектронных корпусах, находящихся под воздействием термических градиентов. Показано, что игнорирование термических градиентов в корпусах приводит к недооценке напряжений в последних.
...
Синтез характеристик надежности ЭРИ зарубежного производства для режима ожидания (хранения)
Показатели сохраняемости характеризуют свойства радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) сохранять работоспособность в режиме ожидания и (или) хранения, и при исследовании надежности оценка этих показателей является обязательной. При проектировании современной РЭА на российских предприятиях широко применяется ЭРИ зарубежного производства. При этом возникает множество проблем, связанных с расчетной оценкой показателей сохраняемости, главной из которых является отсутствие характеристик сохраняемости ЭРИ зарубежного производства в справочниках. Для решения этой проблемы разработан метод расчета показателей сохраняемости ЭРИ зарубежного производства и их аналогов на основе принципа двойственности...
Способ и прибор для определения передаточных функций межсоединений на печатных платах
Патентуемый способ функций определение передаточных функций межсоединения, выполненного через проводники из проводящего материала, трассированные на ППЛ, и оценку качества передачи сигнала, исключая влияние адаптеров, используемых для присоединения к измерительному инструменту. Для реализации способа необходимо наличие, только двух проводников разной длины на ППЛ и процессора с анализатором для преобразования данных из частотных доменов во временные домены.
...
Повышение вероятности определения времени наработки на отказ типовых элементов замены
Современный этап производства сложной радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) характеризуется ее разбиением на функционально законченные модули. Такой подход позволяет существенно сокращать время поиска и устранения отказов при дальнейшей эксплуатации изделий. Как правило, на месте эксплуатации восстановление осуществляется путем замены модулей, называемых типовыми элементами замены (ТЭЗ), а не элементов, входящих в их состав. В ряде случаев восстановление на месте эксплуатации невозможно, но при этом требуется обеспечить функционирование изделия в течение определенного промежутка времени с вероятностью не ниже заданной.
...
Контроль качества электронных средств по методу комплексных испытаний
В рамках микрокибернетического идентификационного подхода комплексные испытания ЭС позволяют решить широкий круг практически важных задач контроля качества и надежности, указать наиболее эффективные пути их повышения, выявить недостатки конструкции, технологии и применения ЭС. При этом подход обеспечивает высокую достоверность принимаемых решений. В настоящее время в промышленности комплексным испытаниям изделий стали уделять все больше внимания как эффективному средству обеспечения эксплуатационной надежности, несмотря на отсутствие серийного отечественного оборудования. Вместе с импортной техникой ввозятся и эвристические методики испытаний, предлагаемые фирмами-изготовителями комплексных стендов...
Влияние степени захвата заполняющего материала на надежность паяных соединений флип-чип структур
Как известно, заполнение пространства между кристаллом и подложкой повышает срок службы паяных соединений флип-чип структур. Значительное внимание уделяется использованию для вышеуказанной цели нетекущих материалов в составе паяных соединений. В статье рассматриваются результаты, полученные при термоциклированием образцов флип-чип структур с паяными соединениями, содержащими нетекучие материалы в составе припоев. Результаты моделирования процесса имели хорошее соответствие с экспериментальными данными, свидетельствующими о существенном увеличении срока службы паяных соединений флип-чип структур с нетекучими материалами в составе припоев.
...
Надежность соединений с помощью специализированных решеток паяльных шариков, при их использовании в аппаратуре связи
Приведены результаты эксперим. исследований надежности паянных соединений ИС, используемых в радиоаппаратуре, выполняемых с помощью специализированных решеток паяльных шариков (TBGA). ИС размещались на ППЛ толщиной 2,9 мм, изготовленных из материала FR-4 и закреплялись путем расплавления 256 шариков припоя. Образцы подвергались термоциклированию с интервалом температур -40:-+125°C, в процессе которых отмечались нарушения контактов. Дополнительный контроль результатов производился с использованием процедуры конечного элемента для двух типов решеток паяльных шариков. На основе полученных результатов были определены сроки службы паянных соединений и исследовано изменение микроструктуры паяльных шариков.
...
Графоаналитический метод прогнозирования надежности электронной аппаратуры
Метод ограниченного тестирования особенно эффективен для прогнозирования параметрической надежности электронной аппаратуры при воздействии внешних факторов, однако ему присущи такие недостатки, как высокая трудоемкость и длительность процесса тестирования. Решение этих проблем обеспечивается предложенным графоаналитическим методом прогнозирования при допущении о выполнении условий мультипликативной теоремы Бернулли. Рассматривается модель параметрических отказов и графоаналитического прогнозирования, обсуждаются вопросы ее практического применения при исследовании надежности электронной аппаратуры.
...
Техника повреждений паяных соединений в технологии поверхностного монтажа в условиях совмещенных термических и механических нагрузок
С целью точного прогнозирования термомех. режима паяных соединений в условиях объединенных термических и динамических нагрузок разработаны способы повреждений на базе унифицированной модели для Pb40-Sn60 паяных соединений. Показано, что в этих условиях срок службы соединений значительно сокращается. Показано, что вибрации могут вносить существенные изменения в срок службы паяных соединений. Отмечается, что неупругие термические деформации и упругие вибрационные деформации могут привести к значительным ошибкам при изучении надежности, что особенно важно в военной и автомобильной аппаратуре. Библ. 48.
...
Способ применения и надежность быстротекущих термообрабатываемых подслоев – Ч. I: процесс и чувствительность к увлажнению
Широко используемая технология флип-чип, используемая для закрепления ИС на ППЛ, плохо совмещается с методами поверхн. монтажа электронных компонент из-за значительных отличий в коэф. температурного расширения материалов. Выход м. б. найден в применении спец. подслоев, обладающих высокой текучестью и требующих кратковременной термообработки. Подслой наносится в процессе пайки кристалла ИС по методу флип-чип путем нанесения материала под давлением с помощью дюзы. Благодаря высокой текучести подслой заполняет пространство между паяльными столбиками и обеспечивает их герметизацию. Термообработка, приводящая к отверждения подслоя, занимает не более 10 мин. при температуре 150-165°. Приведены результаты эксперим...
Анализ паяных соединений перевернутых кристаллов относительно усталостной долговечности
В предлагаемой работе приводятся результаты исследований оценки усталостной долговечности паяных соединений перевернутых кристаллов, используемых при монтаже на ППЛ. Для паяных соединений перевернутых кристаллов применялись 2 припоя с составами: 63олово-37свинец и 5олово-95свинец. На полученные соединения воздействовали термоударом до разрушения. В работе представлена дискуссия относительно определения долговечности паяных соединений методом падения эл. потенциала и по эффекту герметичности. Установлено, что герметичность имеет значительный эффект на продолжительность долговечности паяных соединений. Термомех...
Разработка метода расчета надежности химических источников тока
В системах связи военной техники, из-за их возможной аварийной или автономной работы в жестких условиях эксплуатации, применяются автономные источники питания напр., автогенераторы. На предприятиях военно-промышленного комплекса, при проектировании различных классов аппаратуры (мобильных, бортовых и др.), специфика которых является использование их в автономном режиме, возникает проблема оценки надежности таких изделий даже на ранних этапах проектирования (эскизного и техн. проектирования). Для получения точной картины по показателям надежности, а именно безотказности и сохраняемости, нужно учитывать влияние всех элементов (составных частей) комплекса, напр. автономных систем электропитания, которые в основном состоят из маломощных автогенераторов и аккумуляторных батарей...
Новая модель прогнозирования срока службы при тепловом старении паянных соединений на уровне подложки корпуса с размерами кристалла (WLCSP)
Причиной популярности технологии прямого подключения полупроводниковых кристаллов к контактным площадкам ППЛ с помощью технологии флип-чип является различие в коэф. температурного расширения элементов конструкции. Выход м. б. найден в применении корпусов с размерами кристаллов, в которых используется подложка из полимера. Анализ температурного старения и срока службы таких структур был выполнен для случая применения медно-титановых паяльных столбиков путем термоциклирования в диапазоне температур -20-+100°C. При исследованиях было определено распределение длины трещин в паянных соединениях. испытания показали, что в пределах от 800 до 1000 циклов влияние трещин практически не влияет на надежность.
...
Подтверждение надежности корпусов для электронных компонент на основе интерферометрии пятен
Используемые при производстве корпусов для микроэлектронных компонент оптикомех. методы контроля, основанные на муаровой интерферометрии, за последние годы сменили более эффективные методы интерферометрии пятен, основанные на освещении испытываемых корпусов лазерным лучом и записи изображений пятен с помощью датчиков на приборах с зарядовой связью. Приведены результаты испытаний на надежность корпусов и подложек для монтажа кристаллов, выполненных путем оценки смещения с помощью интерферометрии при изменении температуры с 25 до 125°C. Приведены результаты измерений, показывающие, что интерферометрия пятен обеспечивает высокую точность определения нагрузок и локальных деформаций корпусов, оказывающих влияние на надежность.
...
